Microscopia de Força Atômica (AFM) no Laboratório de Nanotecnologia

A maioria dos laboratórios de nanotecnologia terá dois tipos de microscópios para visualização materiais no nível nano - o microscópio eletrônico de varredura (MEV) e do microscópio de força atômica (AFM).

Tanto o SEM e AFM são fáceis de usar e, portanto, tornaram-se onipresentes em laboratórios que trabalham com nanomateriais. A AFM tem resolução maior do que a SEM, mas o SEM pode olhar para uma área muito maior de uma amostra, de modo que os dois tipos de instrumentos se complementam muito bem.

Se você precisar de uma imagem da superfície de uma amostra com resolução atômica e não precisa de olhar para a estrutura interna da amostra, a AFM é particularmente útil.

A AFM contém uma ponta ligada a um braço de suporte, semelhante à agulha usada em gira-discos. A ponta em um AFM é pequena, menos de um nanômetro de largura. É objectivo um laser em cantilever e como a ponta de AFM se move para cima e para baixo, uma vez que varre ao longo da superfície da amostra, a posição do feixe de laser sobre os desvios do detector.

Este método gera uma imagem topográfica de superfície com uma resolução suficiente para determinar a posição dos átomos individuais.